[发明专利]一种太阳眼镜功能片的质量检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201810009292.3 申请日: 2018-01-05
公开(公告)号: CN108195567B 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 翁秋龙;张新华 申请(专利权)人: 信利半导体有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 邓义华;廖苑滨
地址: 516600 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种太阳眼镜功能片的质量检测装置,所述太阳眼镜功能片包括贴附有SRF膜的线偏光片,所述质量检测装置包括暗室箱体、亮度测试器、及检测机构,所述检测机构设于所述暗室箱体内,所述检测机构包括平行设置的第一玻璃基板和第二玻璃基板,所述第一玻璃基板下方设置有第一线偏光片,所述第二玻璃基板上方设置有待测太阳眼镜功能片;所述第二玻璃基板下方设置有光源,且所述光源与所述亮度测试器的亮度测试探头正相对;所述第一线偏光片的吸收轴与待测太阳眼镜功能片中的线偏光片的吸收轴相互垂直。本发明可以根据测试的亮度值检测太阳眼镜功能片的质量,且结构简单便于实现,可提高检测速度,提高检测的效率和准确率。
搜索关键词: 太阳眼镜 功能片 玻璃基板 质量检测装置 亮度测试 暗室箱体 偏光片 吸收轴 线偏光 光源 检测 第一线 亮度值检测 平行设置 准确率 探头 垂直 测试
【主权项】:
1.一种太阳眼镜功能片的质量检测装置,所述太阳眼镜功能片包括贴附有SRF膜的线偏光片,其特征在于,所述质量检测装置包括暗室箱体、亮度测试器、及检测机构,所述检测机构设于所述暗室箱体内,所述检测机构包括平行设置的第一玻璃基板和第二玻璃基板,所述第一玻璃基板下方设置有第一线偏光片,所述第二玻璃基板上方设置有待测太阳眼镜功能片;所述第二玻璃基板下方设置有光源,且所述光源与所述亮度测试器的亮度测试探头正相对;所述第一线偏光片的吸收轴与待测太阳眼镜功能片中的线偏光片的吸收轴相互垂直;所述第一玻璃基板上设有第一水平对位线,以定位第一线偏光片,所述第二玻璃基板上设有第二水平对位线,以定位待测太阳眼镜功能片。
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