[发明专利]OLED面板的测试系统与测试方法在审

专利信息
申请号: 201810015505.3 申请日: 2018-01-08
公开(公告)号: CN108036932A 公开(公告)日: 2018-05-15
发明(设计)人: 郑昌平;孔双全;孙迎龙;钮成杰;林裕堂 申请(专利权)人: 苏州广林达电子科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;H04N5/232
代理公司: 苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32295 代理人: 叶栋
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及OLED显示器件测试领域,属于一种OLED面板的测试方法及测试系统。本发明提供了一种OLED面板的测试系统,包括OLED面板定位调整通用平台、压接模组、Gamma测试调整模组、自动光学画面检测模组和与压接模组信号连接的画面产生器。本发明的OLED面板的测试系统与测试方法将原本独立的Gamma检测与自动光学检测模组整合在一起构成全自动一体化的测试系统,极大地方便了使用者的操作,降低了人工需求,提高了检测效率与检测精度;与此同时,在压接点亮面板过程中导入视觉自动对位步骤,面板点亮率随之上升,进而也促进了检测效率的提高。
搜索关键词: oled 面板 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种OLED面板测试系统,其特征在于,用于检测OLED面板,所述OLED面板的测试系统包括机架、设置在机架上的用以放置OLED面板并对所述OLED面板进行限位调整的OLED面板定位调整通用平台、设置在所述OLED面板定位调整通用平台一侧且用以点亮OLED面板的压接模组、设置在所述平台一侧且用以检测及调整已被点亮的OLED面板的Gamma测试调整模组、设置在所述平台一侧且用以检测已被点亮的OLED面板的画面的自动光学画面检测模组、以及与所述压接模组信号连接的画面产生器。
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