[发明专利]一种SPR与波导混合吸收谱特征位置的二维识别方法有效
申请号: | 201810017382.7 | 申请日: | 2018-01-09 |
公开(公告)号: | CN108256522B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 王秋生;张蓓;李昂;王希奇;闫鹏;胡庆雷 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06K9/32 | 分类号: | G06K9/32;G06K9/52;G06K9/00;G06T7/136;G06T7/64 |
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地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 该发明公开了一种SPR与波导混合吸收谱特征位置的二维识别方法。其特点在于对二维表面等离子体(Surface plasmon resonance,SPR)多模式吸收谱对应的各激发角进行高精度自动提取。所述方法包括:通过互相关方法粗略定位出通光孔径所在圆位置,并将物镜后焦面共轭面上的图像传感器采集到的图像裁剪为包含通光孔径所在圆的矩形图像;通过局部二值化提高通光孔径和通光孔径外部分的对比度并通过互相关方法精确定位通光孔径位置,将通光孔径所在圆外图像信息移除,得到只包含多模式吸收谱对应的各激发角所在圆信息的图像;之后通过互相关方法确定多模式吸收谱对应的各激发角所在圆的圆心,通过分区域的灰度统计方法确定多模式吸收谱对应的各激发角的位置。 | ||
搜索关键词: | 一种 spr 波导 混合 吸收 特征 位置 二维 识别 方法 | ||
【主权项】:
1.一种SPR与波导混合吸收谱特征位置的二维识别方法,其特征包括:步骤1:读取图像传感器采集到的物镜后焦面上的SPR多模式吸收谱并将其保存为灰度图像;步骤2:对步骤1得到的灰度图像进行二值化处理,对通光孔径所在圆进行粗定位,基于定位结果对步骤1中所得图像进行裁剪,得到矩形图像,建立以裁剪后图像左上角为原点,x、y轴正方向分别为向右、向下方向的坐标系;步骤3:对步骤2所得图像进行二值化处理,根据二值化后图像对通光孔径所在圆进行精定位,将二值化后的图像进行反色,根据通光孔径所在圆精定位结果,保留下通光孔径区域内多模式吸收谱的各激发角对应的吸收弧,其特征表现为多对共心且正交的吸收圆弧,将其余区域灰度置零;步骤4:获取步骤3所得图像中多模式吸收谱各激发角对应的多对正交吸收圆弧的圆心位置;步骤5:基于步骤4得到的多模式吸收谱各激发角对应的多对正交吸收圆弧的圆心位置,以此为中心,统计在通光孔径所在圆区域内不同方向上的像素灰度分布,确定多模式吸收谱各激发角对应的多对正交吸收圆弧的半径,完成SPR多模式吸收谱各激发角对应位置的识别。
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