[发明专利]一种定量相位测量方法、装置和系统有效
| 申请号： | 201810019504.6 | 申请日： | 2018-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN108180867B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 彭翔;邓定南;何文奇;刘晓利 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 王利彬 |
| 地址： | 518060 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种定量相位测量方法、装置和系统，涉及光学成像技术领域。其中，该方法包括：获取多个离焦距离下待测物体的离焦全息图，根据多个离焦全息图，得到待测物体的复振幅分布，由复振幅分布计算待测物体的系统相位分布，并从系统相位分布中提取待测物体的相位分布。采用多个离焦全息图，即可得到待测物体的相位分布。不但避免频谱选择和引入相移单元，而且避免对待测物体的假设和预先系统知识的获取，进而使测量得到的相位准确，操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 定量 相位 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种定量相位测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个离焦距离下待测物体的离焦全息图；根据所述多个离焦全息图，得到所述待测物体的复振幅分布；由所述复振幅分布计算所述待测物体的系统相位分布，并从所述系统相位分布中提取所述待测物体的相位分布。
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