[发明专利]镭射膜存放时间的检测方法有效
| 申请号： | 201810019649.6 | 申请日： | 2018-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN108254411B | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 余赞;田璐;钟文;张勇军;韦雪雪;罗臻;陈华;章杰 | 申请（专利权）人： | 常德金德新材料科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄晓庆 |
| 地址： | 415000 湖南省常德市经济技*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： |
本申请提供一种镭射膜存放时间的检测方法，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定镭射膜的实时电晕值；根据实时电晕值，得到镭射膜的存放时间；该镭射膜的实时电晕值与存放时间的关系式如下：σ＝‑0.0125t |
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| 搜索关键词： | 镭射 存放 时间 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种镭射膜存放时间的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定所述镭射膜的实时电晕值；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间；根据所述实时电晕值，得到所述镭射膜的存放时间所用的公式如下：σ＝‑0.0125t2‑0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，单位：dyn/cm，t为存放时间，单位：月，σ0为初始电晕值，单位：dyn/cm。
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