[发明专利]半导体开关控制装置有效

专利信息
申请号: 201810021825.X 申请日: 2018-01-10
公开(公告)号: CN108306252B 公开(公告)日: 2020-07-21
发明(设计)人: 森本充晃 申请(专利权)人: 矢崎总业株式会社
主分类号: H02H3/08 分类号: H02H3/08;G01R19/25;H03K17/687
代理公司: 北京奉思知识产权代理有限公司 11464 代理人: 吴立;邹轶鲛
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明在于提供一种能够恰当地截断过电流且保护电路的半导体开关控制装置。半导体开关控制装置(1)包括:控制部(40),检测负载电流的模拟信号,将所检测到的模拟信号转换为数字信号,基于所转换的数字信号判定过电流;短路检测部(50),检测负载电压的模拟信号,不将所检测到的模拟信号转换为数字信号而基于该模拟信号检测过电流;以及驱动部(20),基于通过控制部(40)判定的过电流的判定结果或者通过短路检测部(50)检测的过电流的检测结果驱动FET(10)。
搜索关键词: 半导体 开关 控制 装置
【主权项】:
1.一种半导体开关控制装置,其特征在于,包括:半导体开关,使从电源流动到负载部的电流即负载电流通电或者截断;判定部,检测所述负载电流或者对所述负载部施加的电压即负载电压的模拟信号,将所检测到的所述模拟信号转换为数字信号,基于转换了的所述数字信号判定过电流;检测部,检测所述负载电流或者所述负载电压的模拟信号,不将所检测到的模拟信号转换为数字信号而基于所述模拟信号检测过电流;以及驱动部,基于通过所述判定部判定的所述过电流的判定结果、或者通过所述检测部检测的所述过电流的检测结果驱动所述半导体开关。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矢崎总业株式会社,未经矢崎总业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810021825.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top