[发明专利]半导体开关控制装置有效
申请号: | 201810021825.X | 申请日: | 2018-01-10 |
公开(公告)号: | CN108306252B | 公开(公告)日: | 2020-07-21 |
发明(设计)人: | 森本充晃 | 申请(专利权)人: | 矢崎总业株式会社 |
主分类号: | H02H3/08 | 分类号: | H02H3/08;G01R19/25;H03K17/687 |
代理公司: | 北京奉思知识产权代理有限公司 11464 | 代理人: | 吴立;邹轶鲛 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明在于提供一种能够恰当地截断过电流且保护电路的半导体开关控制装置。半导体开关控制装置(1)包括:控制部(40),检测负载电流的模拟信号,将所检测到的模拟信号转换为数字信号,基于所转换的数字信号判定过电流;短路检测部(50),检测负载电压的模拟信号,不将所检测到的模拟信号转换为数字信号而基于该模拟信号检测过电流;以及驱动部(20),基于通过控制部(40)判定的过电流的判定结果或者通过短路检测部(50)检测的过电流的检测结果驱动FET(10)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 开关 控制 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体开关控制装置,其特征在于,包括:半导体开关,使从电源流动到负载部的电流即负载电流通电或者截断;判定部,检测所述负载电流或者对所述负载部施加的电压即负载电压的模拟信号,将所检测到的所述模拟信号转换为数字信号,基于转换了的所述数字信号判定过电流;检测部,检测所述负载电流或者所述负载电压的模拟信号,不将所检测到的模拟信号转换为数字信号而基于所述模拟信号检测过电流;以及驱动部,基于通过所述判定部判定的所述过电流的判定结果、或者通过所述检测部检测的所述过电流的检测结果驱动所述半导体开关。
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