[发明专利]用于分析测量区域的方法和微型光谱仪有效
| 申请号： | 201810023301.4 | 申请日： | 2018-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN108303387B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | B.施泰因;C.舍林;F.米歇尔;M.赫默斯多夫;M.胡斯尼克;R.诺尔特迈尔 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 宣力伟;邓雪萌 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 测量 区域 方法 微型 光谱仪 | ||
【主权项】：
1.用于在考虑到光谱评估（14）至少一个单个测量（11'、11''、11'''、11''''）的情况下分析测量区域（5）的方法（10），其中所述单个测量（11'、11''、11'''、11''''）具有如下步骤：•以电磁射束辐射（110'、110''）测量区域（5）的物体（5''），•光谱测定地测量（111）来自测量区域的射束（501），其特征在于，为了分析测量区域（5）执行至少两个单个测量（11'、11''、11'''、11''''），其中•针对第一单个测量（11'）利用第一射束分布以电磁射束辐射（110'）物体（5''）并且通过光谱测定地测量（111）来自测量区域的第一射束来提供第一光谱测定的探测器信号（111'），•针对第二单个测量（11''）利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射（110''）物体（5''）并且通过光谱测定地测量（111）来自测量区域的第二射束来提供第二光谱测定的探测器信号（111''），•通过比较（12）第一光谱测定的探测器信号（111'）和第二光谱测定的探测器信号（111''）获知比较值（12'、121'），其中所述比较值（12'、121'）是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估（14），根据所述比较值（12'、121'）选出（13）光谱测定的探测器信号（111'、111''），用以分析测量区域（5）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗伯特·博世有限公司，未经罗伯特·博世有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810023301.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
