[发明专利]故障自检方法、故障自检装置、微控制器和可读存储介质有效
| 申请号： | 201810023798.X | 申请日： | 2018-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN108153611B | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 张燕京 | 申请（专利权）人： | 芜湖美的厨卫电器制造有限公司;美的集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人： | 尚志峰;汪海屏 |
| 地址： | 241009 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种故障自检方法、故障自检装置、微控制器和可读存储介质，其中，故障自检方法包括：根据微控制器的运行速度，将只读存储器的待检测存储区间划分为第一数量的父区域，并获取每个父区域的地址数据；根据地址数据依次对父区域执行故障校验；在每个父区域校验完毕时，检测校验结果是否与校验预制值匹配；在检测到校验结果与校验预制值不匹配时，控制关闭与微控制器电连接的负载。通过本发明的技术方案，一方面，通过MCU控制关闭负载，以防止在ROM发生故障时，负载根据ROM中的的混乱代码运行，进而降低事故发生的概率，另一方面，通过进行区域划分，能够减少验证过程中对CPU资源的占用，在保证了MCU正常运行的同时，有利于提升校验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 故障 自检 方法 装置 控制器 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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