[发明专利]一种基于变压器自激振荡的绕组入口电容测试方法有效
申请号: | 201810035483.7 | 申请日: | 2018-01-15 |
公开(公告)号: | CN108181512B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 刘红文;王科 | 申请(专利权)人: | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 650217 云南省昆*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本申请公开了一种基于变压器自激振荡的绕组入口电容测试方法,目的在于,具有测试回路简单、检测信号强、电压高及准确度高的特点,适用于变压器绕组每相对地电容量的测试,利用直流高压电源在变压器的一次绕组的三相中性点施加直流高压电,并在直流高压电源与一次绕组间设置短接开关,利用短接开关闭合接地,形成对地杂散电容、套管电容和一次绕组对二次绕组的漏抗或励磁阻抗振荡回路,利用波形测量分析装置测量一次绕组的三相电压响应曲线,根据测量得到的三相电压响应曲线分析得到每相电压响应曲线的频率,再利用变压器的励磁阻抗或短路阻抗,计算出变压器每相绕组的入口电容。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 变压器 振荡 绕组 入口 电容 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于变压器自激振荡的绕组入口电容测试方法,其特征在于,包括以下步骤:首先将直流高压电源电连接至变压器(7)的一次绕组(L)的三相中性点,将短接开关(K1)一端电连接至高压发生器(1)与一次绕组(L)间,另一端接地,在一次绕组(L)每相的套管电容(C0)的末屏电连接分压电容(6),并将分压电容(6)接地,波形测量分析装置(4)连接分压电容(6)的两端;然后通过直流高压电源向一次绕组(L)充直流电压,控制短接开关(K1)闭合,形成对地杂散电容(C1)、套管电容(C0)和一次绕组(L)对二次绕组(3)的漏抗或励磁阻抗振荡回路,通过波形测量分析装置(4)测量一次绕组(L)的三相电压响应曲线;最后根据测量得到的三相电压响应曲线分析得到每相电压响应曲线的频率f,再利用变压器的励磁阻抗Lm或短路阻抗Lσ,计算出变压器每相绕组的入口电容C入。
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