[发明专利]一种CVT电容介损及电容量的测试方法有效
| 申请号： | 201810038192.3 | 申请日： | 2018-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN108169575B | 公开（公告）日： | 2020-07-17 |
| 发明（设计）人： | 朱启龙;马宏明;钱国超;邹徳旭;颜冰 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院;云南电网有限责任公司红河供电局 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种CVT电容介损及电容量的测试方法，微分电流传感器钳接在CVT的高压引流端，带屏蔽测试线分别连接微分电流传感器和所述全自动抗干扰介质损耗测试仪；高压试验测试线分别连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的高压测试端和CVT的高压端子，CVT的低压端子接地；第一CVT自激法二次加压线连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的低压测试端和CVT的da端，第二CVT自激法二次加压线连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的接地端和CVT的dn端。采用微分电流传感器采集CVT主电容的电流，结合全自动抗干扰介质损耗测试仪可以快速准确CVT的主电容和分电容的电容量及介损值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 cvt 电容 容量 测试 方法 | ||
所述微分电流传感器(1)钳接在CVT的高压引流端，所述带屏蔽测试线(2)分别连接所述微分电流传感器(1)和所述全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)；所述高压试验测试线(4)分别连接所述全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)的高压测试端和CVT的高压端子，所述CVT的低压端子接地；所述CVT自激法二次加压线(5)包括第一CVT自激法二次加压线(51)和第二CVT自激法二次加压线(52)，所述第一CVT自激法二次加压线(51)连接所述全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)的低压测试端和CVT的da端，所述第二CVT自激法二次加压线(52)连接所述全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)的接地端和CVT的dn端。
2.根据权利要求1所述的CVT电容介损及电容量的测试装置，其特征在于，所述微分电流传感器(1)是一个均匀缠绕在非铁磁性材料上的环形线圈，输出信号是电流对时间的积分。3.根据权利要求1或2所述的CVT电容介损及电容量的测试装置，其特征在于，CVT的高压引流端连接一高压引流导线(6)，所述微分电流传感器(1)与所述高压引流导线(6)相连接。4.根据权利要求3所述的CVT电容介损及电容量的测试装置，其特征在于，所述高压引流导线(6)设置有一接地线(7)，所述接地线(7)一端与所述高压引流导线(6)连接，另一端接地。5.一种CVT电容介损及电容量的测试方法，其特征在于，利用权利要求1‑4任一项所述的CVT电容介损及电容量的测试装置，所述方法包括:微分电流传感器(1)采集CVT内的主电容流过的电流并传输给全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)；
获取分压电容与全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)的标准电容串联作为测试回路标准电容；
获取所述测试回路中的回路电流；
通过所述回路电流和全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)的标准电容值计算全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)的标准电容两端的电压；
根据CVT内的主电容流过的电流与全自动抗干扰介质损耗测试仪(3)的标准电容两端的电压获取主电容的电容量和介损值；
根据主电容的电容量和介损值确定分压电容的电容量和介损值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于云南电网有限责任公司电力科学研究院;云南电网有限责任公司红河供电局，未经云南电网有限责任公司电力科学研究院;云南电网有限责任公司红河供电局许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810038192.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
