[发明专利]测量仪器和用于其的反射装置有效

专利信息
申请号: 201810039270.1 申请日: 2018-01-16
公开(公告)号: CN108362184B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 庭野敦也 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B3/22 分类号: G01B3/22;G02B27/01
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 葛青
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的是提供一种测量仪器和一种用于所述测量仪器的反射装置,所述反射装置可以改善在显示单元上显示的信息的可视性。本发明的解决方案是提供一种测量仪器(1),包括:显示单元(2),其配置为显示信息;显示控制单元,其配置为控制在显示单元上显示所述信息;以及反射装置(3),其配置为经由镜面反射来反转在显示单元(2)上显示的所述信息。由于测量仪器(1)包括配置为经由镜面反射来反转在显示单元(2)上显示的所述信息的反射装置(3),所以即使当难以从显示单元(2)直接读取信息时,也可以经由反射装置(3)看到所述信息。因此,测量仪器(1)可以改善在显示单元(2)上显示的信息的可视性。
搜索关键词: 测量 仪器 用于 反射 装置
【主权项】:
1.一种测量仪器,包括:显示单元,其配置为显示信息;显示控制单元,其配置为控制在所述显示单元上显示所述信息;以及反射装置,其配置为经由镜面反射来反转在所述显示单元上显示的所述信息。
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