[发明专利]光子到达时间和位置同步测量的荧光寿命成像系统及方法有效
| 申请号： | 201810040971.7 | 申请日： | 2018-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN108387560B | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 鄢秋荣;王慧;袁成龙;李冰 | 申请（专利权）人： | 南昌大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 南昌青远专利代理事务所(普通合伙) 36123 | 代理人： | 刘爱芳 |
| 地址： | 330000 江西省*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光子到达时间和位置同步测量的荧光寿命成像系统及方法，包括扫描平移台，待成像样品，激发光源，聚焦透镜、多色仪、MCP位敏阳极探测器；扫描平移台用于放置待成像样品；激发光源用于照射待成像样品；聚焦透镜、多色仪、MCP位敏阳极探测器依次设置于待成像样品受激发光的传播方向；所述的MCP位敏阳极探测器的外侧连接时间信号引出模块；所述MCP位敏阳极探测器的位敏阳极多路输出依次与电荷灵敏前置放大器、光子到达时间和位置同步测量电路、图像重建模块连接；所述时间信号引出模块与光子到达时间和位置同步测量电路连接；所述扫描平移台与图像重建模块连接。本发明具有更精细的光谱分辨率、可获取更多维信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 到达 时间 位置 同步 测量 荧光 寿命 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光子到达时间和位置同步测量的荧光寿命成像系统，其特征在于：包括扫描平移台（1），待成像样品（10），激发光源（2），聚焦透镜（3）、多色仪（4）、MCP位敏阳极探测器（5），时间信号引出模块（6），电荷灵敏前置放大器（7）、光子到达时间和位置同步测量电路（8）和图像重建模块（9）；所述的扫描平移台（1）用于放置待成像样品（10）；所述的激发光源（2）用于照射待成像样品（10）；所述的聚焦透镜（3）、多色仪（4）、MCP位敏阳极探测器（5）依次设置于待成像样品（10）受激发光的传播方向；所述的MCP位敏阳极探测器（5）的外侧连接时间信号引出模块（6）；所述MCP位敏阳极探测器（5的位敏阳极多路输出依次与电荷灵敏前置放大器（7）、光子到达时间和位置同步测量电路（8）、图像重建模块（9）连接；所述时间信号引出模块（6）与所述光子到达时间和位置同步测量电路（8）连接；所述扫描平移台（1）与图像重建模块（9）连接。
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