[发明专利]一种基于金属微纳结构阵列透射的逻辑开关有效
| 申请号： | 201810044163.8 | 申请日： | 2018-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN108333965B | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 张中月;陈旭浪;王明艳;赵文静;朱牧飞;孙永伟 | 申请（专利权）人： | 陕西师范大学 |
| 主分类号： | G05B19/04 | 分类号： | G05B19/04;B82Y40/00 |
| 代理公司： | 西安智萃知识产权代理有限公司 61221 | 代理人： | 方力平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市长*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于金属微纳结构阵列透射的逻辑开关，包括检测组件和检测转换装置，检测转换装置包括转轴、沿转轴周向均匀分布的多个检测单元、用于联接检测单元和转轴的连接杆，所述检测组件包括发射单元、接收单元；并且发射单元、接收单元之间设置有供检测单元通过的缝隙。检测单元包括外部固定架、上高透玻璃、下高透玻璃和金属方块阵列结构板结构板。本发明提供的这种新型的基于微纳结构阵列透射的逻辑开关，与现有逻辑开关的结构方式完全不同，不仅能够实现两种逻辑运算的判断，而且能实现多个逻辑运算，能够作为逻辑开关进行使用，而且便于操作，有利于实现动态变化的调节。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 金属 结构 阵列 透射 逻辑 开关 | ||
【主权项】：
1.一种基于金属微纳结构阵列透射的逻辑开关，其特征在于：包括检测组件(1)和检测转换装置，检测转换装置包括转轴(3)、沿转轴(3)周向均匀分布的多个检测单元(4)、用于联接检测单元和转轴(3)的连接杆(7)，所述连接杆(7)的一端与转轴(3)连接，连接杆(7)的另一端与检测单元(4)连接；所述检测组件(1)包括发射单元(5)、接收单元(6)；所述发射单元(5)、接收单元(6)对应设置，并且发射单元(5)、接收单元(6)之间设置有供检测单元(4)通过的缝隙；所述检测单元(4)包括：外部固定架(4‑1)、上高透玻璃(4‑2)、下高透玻璃(4‑3)和金属方块阵列结构板(4‑4)；所述金属方块阵列结构板(4‑4)夹持在上高透玻璃(4‑2)与下高透玻璃(4‑3)之间，所述上高透玻璃(4‑2)与下高透玻璃(4‑3)通过外部固定架(4‑1)固定；所述金属方块阵列结构板(4‑4)的金属方块阵列的单个金属方块的长为60～120nm，宽为60nm；所述金属方块阵列结构板(4‑4)的金属方块阵列的每个金属方块大小均相同，且不同检测单元(4)的金属方块阵列结构板(4‑4)的金属方块阵列的金属方块大小均不相同。
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