[发明专利]一种拉曼光谱检测仪校准方法有效
申请号: | 201810046148.7 | 申请日: | 2018-01-17 |
公开(公告)号: | CN108169208B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 徐晓轩;王斌;文虹镜;时金蒙;车颖;梁菁;徐阳阳;杨江涛 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01N21/01 |
代理公司: | 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 | 代理人: | 马金华 |
地址: | 300000*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种拉曼光谱检测仪校准方法,包括以下操作步骤,步骤一,得到参考光谱S1;步骤二,得到初始光谱S2;步骤三,得到当前背景光谱S3;步骤四,计算所述参考光谱S1与所述初始光谱S2的第一差值光谱Sd1,计算所述参考光谱S1与当前背景光谱S3的第二差值光谱Sd2,计算所述初始光谱S2与所述当前背景光谱S3的第三差值光谱Sd3;步骤五,确定第一偏移量△v1与第二偏移量△v2;步骤六,采用所述第一偏移量△v1对检测结果的拉曼光谱进行修正或采用所述第四偏移量△v4对检测结果的拉曼光谱进行修正。本发明拥有校准参照多,校准度高,实时性好的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 光谱 检测 校准 方法 | ||
步骤一,使用拉曼光谱检测仪对标准参考物进行T时间段的信号采样,得到参考光谱S1;
步骤二,使用拉曼光谱检测仪对被待检测物进行所述T时间段的信号采样,得到初始光谱S2;
步骤三,使用拉曼光谱检测仪对空置的样品池进行所述T时间段的信号采样,得到当前背景光谱S3;
步骤四,计算所述参考光谱S1与所述初始光谱S2的第一差值光谱Sd1,计算所述参考光谱S1与当前背景光谱S3的第二差值光谱Sd2,计算所述初始光谱S2与所述当前背景光谱S3的第三差值光谱Sd3;
步骤五,分别根据所述第二差值光谱Sd2与所述第三差值光谱Sd3确定参考激光谱峰与被待检物激光谱峰,分别根据所述参考激光谱峰与所述待检物激光谱峰的中心位置分别确定第一偏移量△v1与第二偏移量△v2;
步骤六,比较所述第一偏移量△v1与所述第二偏移量△v2,若相等则采用所述第一偏移量△v1对检测结果的拉曼光谱进行修正;若不相等则根据所述第一差值光谱Sd1确定差值激光谱峰,而后根据所述差值激光谱峰的中心位置确定第三偏移量△v3,使用所述第三偏移量△v3对所述偏移量△v1进行修正得到第四偏移量△v4,最后采用所述第四偏移量△v4对检测结果的拉曼光谱进行修正。
2.根据权利要求1所述的一种拉曼光谱检测仪校准方法,其特征在于:所述步骤五还包括将使用所述第一偏移量△v1对所述标准参考物的检测结果vf直接进行修正,并将修正结果与标准拉曼光谱进行比较后得到第五偏移量△v5,使用所述第五偏移量△v5对所述第一偏移量△v1与所述第二偏移量△v2进行修正得到最终第一偏移量△v1a与最终第二偏移量△v2a,使用所述最终第一偏移量△v1a与所述最终第二偏移量△v2a取代所述第一偏移量△v1与所述第二偏移量△v2后进行步骤六操作。3.根据权利要求1所述的一种拉曼光谱检测仪校准方法,其特征在于:所述的拉曼光谱检测仪的陷波滤光片的光密度参数为6.5~7.5。4.根据权利要求1所述的一种拉曼光谱检测仪校准方法,其特征在于:还包括在进行所述的步骤一~步骤六的操作之前先置于暗房内预先执行所述步骤一~步骤六进行前置校准。5.根据权利要求4所述的一种拉曼光谱检测仪校准方法,其特征在于:所述前置校准的步骤一~步骤六还包括使用标准白炽灯提供背景光进行有光环境初步校准。6.根据权利要求1所述的一种拉曼光谱检测仪校准方法,其特征在于:当所述第二偏移量△v2为0值时,所述的步骤六中不进行修正直接输出结果。7.根据权利要求1所述的一种拉曼光谱检测仪校准方法,其特征在于:当所述第一偏移量△v1为0值时,所述步骤六中直接使用所述第二偏移量△v2对检测结果的拉曼光谱进行修正。8.根据权利要求1所述的一种拉曼光谱检测仪校准方法,其特征在于:所述的标准参考物为聚苯乙烯。该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南开大学,未经南开大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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