[发明专利]半导体制冷片检测设备

摘要

本发明涉及一种半导体制冷片检测设备，包括机架，机架设置有进料传输带、不合格品传输带、不合格品分拣装置、控制器、条码牌识别装置及电阻检测装置，进料传输带与不合格品传输带平行设置，进料传输带两端分别设置有进料端及合格品出料端，两组条码牌识别装置、两组电阻检测装置及一组不合格品分拣装置沿半导体制冷片传输方向依次设置于进料传输带侧面，条码牌识别装置同时将相邻两个半导体制冷片同时进行摄像及识别，两组电阻检测装置将识别后的相邻两个半导体制冷片同时进行电阻值测试，不合格品分拣装置将电阻检测后的不合格品从进料传输带移位至不合格品传输带。采用上述方案，本发明提供一种检测准确、检测效率高的半导体制冷片检测设备。

主权项

1.一种半导体制冷片检测设备，包括机架，其特征在于：所述的机架设置有进料传输带、不合格品传输带、不合格品分拣装置、控制器、两组条码牌识别装置及两组电阻检测装置，所述的进料传输带与不合格品传输带平行设置，所述的进料传输带两端分别设置有进料端及合格品出料端，所述的进料传输带将半导体制冷片沿进料端向合格品出料端的方向进行传输，所述的两组条码牌识别装置、两组电阻检测装置及一组不合格品分拣装置沿半导体制冷片传输方向依次设置于进料传输带侧面，两组所述的条码牌识别装置同时将相邻两个半导体制冷片同时进行摄像，并发送至控制器进行识别及储存，两组所述的电阻检测装置将识别后的相邻两个半导体制冷片同时进行电阻值测试，将结果发送至控制器进行比对，区分合格品及不合格品，所述的不合格品分拣装置将电阻检测后的不合格品从进料传输带移位至不合格品传输带，所述的不合格品传输带一端为与不合格品分拣装置对应的移位端，另一端为不合格品出料端，所述的不合格品传输带将劣品从移位端向不合格品出料端传输，所述的电阻检测装置包括检测气缸、检测座、微调座，正极压块、负极压块及稳定臂，所述的检测气缸驱动检测座升降，所述的检测座设置有供微调座竖向移动的微调轨道，所述的检测座沿微调轨道方向设置有与检测座转动配合，并与微调座螺纹配合的微调螺杆，所述的正极压块及负极压块安装于微调座，并分别与半导体制冷片的两根引线位置相对应，所述的稳定臂依次设置有延伸部、调高部及稳定块，所述的延伸部一端安装于检测座，另一端延伸至半导体制冷片上方，所述的调高部相对延伸部竖向伸缩，且底部用于安装稳定块，所述的稳定块设置有校正腔，所述的调高部包括穿过延伸部的调高螺杆，所述的调高螺杆的端部限位于校正腔，所述的校正腔内沿竖向设置有压缩于调高螺杆的端部与校正腔之间的缓冲弹簧，所述的缓冲弹簧内设置有监控缓冲弹簧压缩程度的校位位置传感器，所述的检测气缸驱动检测座下降时，正极压块及负极压块分别按压两根引线，将半导体制冷片接入电阻检测电路，稳定臂的稳定块与半导体制冷片上端面相抵，将半导体制冷片按压于进料传输带。