[发明专利]一种改进的伪四线测试方法及其测试结构有效
| 申请号： | 201810050675.5 | 申请日： | 2018-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN108254672B | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 王磊 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种改进的伪四线测试方法及其测试结构，所述测试方法包括下列步骤：在测试设备输入端分别接入DPS电源高位激励端和测试通道输入端；获取测试设备输出端的负载电流测试数据和建立时间数据；获取测试设备输出端的输出电压数据。本发明提出的改进的伪四线测试方法及其测试结构，解决了在同一测试流程中一次就可以测量建立时间(不带负载)和输出电压(带负载)，现有技术一般通过分别两次测量(需更换硬件)或通过复杂的开关矩阵板来实现同一测试流程测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 改进 伪四线 测试 方法 及其 结构 | ||
【主权项】：
1.一种改进的伪四线测试方法，其特征在于，包括下列步骤：在测试设备输入端分别接入DPS电源高位激励端和测试通道输入端；获取测试设备输出端的负载电流测试数据和建立时间数据；获取测试设备输出端的输出电压数据。
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