[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201810052156.2 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108631765B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 山岸俊之;堀口智哉 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | H03K19/0175 | 分类号: | H03K19/0175;H03K19/21;H04L7/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 牛玉婷 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 实施方式的半导体装置具备第1以及第2耦合器部、编码电路、以及解调电路。编码电路基于经由第1耦合器部输入的时钟将数字数据进行差分曼彻斯特编码而输出编码数据。解调电路包含:第1采样电路,基于被设定为经由第2耦合器部输入的编码数据的频率的2倍的采样频率,将编码数据采样而输出第1样本数据;第2采样电路,将比第1采样电路在时间上靠前的定时的编码数据采样而输出第2样本数据;判定电路,判定第1以及第2样本数据是否一致;以及选择电路,从第1样本数据之中选择第1以及第2相位数据中的某一方。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,具备:第1耦合器部;编码电路,基于经由上述第1耦合器部输入的时钟,将数字数据进行差分曼彻斯特编码而输出编码数据;第2耦合器部;以及解调电路,对经由上述第2耦合器部输入的上述编码数据进行解调,上述解调电路包含:第1采样电路,基于被设定为上述编码数据的频率的2倍的采样频率将上述编码数据采样而输出第1样本数据;第2采样电路,基于上述采样频率,将比上述第1采样电路在时间上靠前的定时的上述编码数据采样而输出第2样本数据;判定电路,判定上述第1样本数据与上述第2样本数据是否一致;以及选择电路,基于上述判定电路的判定数据,从上述第1样本数据之中选择第偶数个被采样的第1相位数据、以及第奇数个被采样的第2相位数据中的某一方。
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