[发明专利]用于多激光系统的激光指向精度的加性制造内置评估和校正的系统和方法有效
申请号: | 201810053631.8 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108327255B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | W.T.卡特 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | B29C64/153 | 分类号: | B29C64/153;B29C64/268;B29C64/393;B33Y30/00;B33Y50/02;B22F3/105 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 郑浩;张金金 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 加性制造系统包含多个激光装置、多个第一扫描装置和光学系统。光学系统包含光学检测器和第二扫描装置。多个激光装置各自配置成生成激光束。多个第一扫描装置各自配置成跨粉末床选择性地引导来自多个激光装置中的激光装置的激光束。激光束在粉末床中生成熔池。光学检测器配置成检测由熔池生成的电磁辐射。第二扫描装置配置成将由熔池生成的电磁辐射引导至光学检测器。光学系统配置成检测激光束在熔池中的位置。 | ||
搜索关键词: | 用于 激光 系统 指向 精度 制造 内置 评估 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种加性制造系统,包括:多个激光装置,所述多个激光装置中的每个激光装置配置成生成激光束;多个第一扫描装置,所述多个第一扫描装置中的每个扫描装置配置成跨粉末床选择性地引导来自所述多个激光装置中的所述激光装置的所述激光束,其中每个激光束在所述粉末床中生成熔池,从而在所述粉末床中形成多个熔池;以及光学系统,包括:光学检测器,其配置成检测由所述多个熔池生成的电磁辐射;以及第二扫描装置,其配置成将由所述多个熔池生成的电磁辐射引导至所述光学检测器,其中所述光学系统配置成检测所述多个熔池的位置。
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