[发明专利]三维纵向电编程存储器在审

专利信息
申请号: 201810056756.6 申请日: 2018-01-21
公开(公告)号: CN110071136A 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 张国飙 申请(专利权)人: 成都海存艾匹科技有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L27/22;G11C13/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提出一种三维纵向电编程存储器(3D‑EPMV)。它含有多层堆叠的水平地址线,多个穿透水平地址线的存储井,一层覆盖存储井边墙、厚度小于100nm的薄存储膜(包括编程膜和二极管膜),多条形成在存储井中的竖直地址线。由于薄存储膜具有较大反向漏电流,为了避免读错误或高能耗,存储阵列中存储元所受的最大反向偏置电压远小于读电压。
搜索关键词: 编程存储器 存储 水平地址 存储膜 三维 反向偏置电压 反向漏电流 二极管 存储阵列 覆盖存储 地址线 读电压 边墙 堆叠 多层 井中 竖直 编程 穿透
【主权项】:
1.一种三维纵向电编程存储器(3D‑EPMV),其特征还在于含有:一含有一衬底电路(0K)的半导体衬底(0);多层处于该衬底电路(0K)之上并垂直堆叠的水平地址线(8a‑8h);多个穿透所述多层水平地址线(8a‑8h)并相互平行的存储井(2a‑2d);一层覆盖该存储井(2a‑2d)边墙的存储膜(6a),所述存储膜(6a)的厚度小于100nm;多条位于该存储井(2a‑2d)中的竖直地址线(4a‑4d);多个位于所述水平地址线(8a‑8h)和所述竖直地址线(2a‑2d)交叉处的存储元(1ha‑1aa);在读阶段下,所述存储元所受的最大反向偏置电压远小于读电压。
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