[发明专利]薄膜晶体管、其制备方法、阵列基板及显示装置在审
申请号: | 201810058206.8 | 申请日: | 2018-01-22 |
公开(公告)号: | CN108258021A | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 彭俊林;王东方;王玉亮;刘增利 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L29/786;H01L21/336 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭润湘 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种薄膜晶体管、其制备方法、阵列基板及显示装置,通过在由金属氧化物半导体材料制备的有源层中掺入氧离子与氢离子,调控有源层的阈值电压。在制备薄膜晶体管时,各子刻蚀阻挡层是采用等离子体增强化学气相沉积工艺分步沉积得到的,以在沉积各子刻蚀阻挡层时选择性的使金属氧化物半导体材料掺入氧离子和氢离子,从而调控金属氧化物半导体材料中掺入氧离子的量和掺入氢离子的量。这样可以在不增加额外的掺杂工艺的情况下,使金属氧化物半导体材料掺入氧离子和氢离子,从而可以降低工艺制备难度,降低制备成本。 | ||
搜索关键词: | 氢离子 金属氧化物半导体材料 掺入 制备 氧离子 薄膜晶体管 刻蚀阻挡层 显示装置 阵列基板 源层 沉积 等离子体增强化学气相沉积 工艺制备 阈值电压 调控 掺杂 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,包括:衬底基板,位于所述衬底基板上的有源层、覆盖所述有源层的刻蚀阻挡层、通过贯穿所述刻蚀阻挡层的过孔与所述有源层电连接的源漏极;其特征在于,所述刻蚀阻挡层包括层叠设置的至少两层子刻蚀阻挡层,所述有源层包括掺入氧离子和氢离子的金属氧化物半导体材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的