[发明专利]发光器件可靠性测试箱、测试装置和方法在审

专利信息
申请号: 201810060240.9 申请日: 2018-01-22
公开(公告)号: CN108332949A 公开(公告)日: 2018-07-27
发明(设计)人: 徐华伟;苏萌;黄林轶;彭琦;胡坚耀;陈玉明;刘群兴 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 余永文
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及一种发光器件可靠性测试箱、测试装置和方法,属于可靠性测试技术领域,通过构造包括光学探头、运动装置和测试箱本体的发光器件可靠性测试箱,在可靠性测试时运动装置移动光学探头至指定位置,光学探头在指定位置采集安置在测试箱内固定位置的发光器件的光学参数,该光学参数可以用于可靠性测试分析。在上述方案中,发光器件是固定在测试箱本体中的,利用运动装置来移动光学探头对发光器件进行光学参数采集,可以减少发光器件移动所带来的误差,提高可靠性测试的准确性。
搜索关键词: 可靠性测试 发光器件 光学参数 运动装置 测试装置 光学探头 移动光学 测试箱 探头 位置采集 采集 测试 安置 移动 分析
【主权项】:
1.一种发光器件可靠性测试箱,其特征在于,包括光学探头、运动装置和测试箱本体;所述光学探头设于所述测试箱本体内并连接光谱仪,所述运动装置设置在所述测试箱本体上并用于移动所述光学探头;在可靠性测试时所述运动装置移动所述光学探头至指定位置,所述光学探头在所述指定位置采集发光器件的光学参数,其中,所述发光器件安置在所述测试箱内的固定位置。
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