[发明专利]基于气体进样正离子源的C-14高灵敏测量装置在审
申请号: | 201810068308.8 | 申请日: | 2018-01-24 |
公开(公告)号: | CN108508475A | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 何明;崔保群;包轶文;姜山;游曲波;苏胜勇;李康宁;赵庆章 | 申请(专利权)人: | 中国原子能科学研究院 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102413 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种基于气体进样正离子源的C‑14高灵敏测量装置,包括用于生成碳的正离子的微波离子源,所述微波离子源与电荷交换器连接,通过电荷交换器将碳的正离子转换为负离子,所述电荷交换器连接注入磁铁,所述注入磁铁通过束流聚焦系统将碳的负离子注入加速与气体剥离系统,加速与气体剥离系统将分子离子瓦解同时将碳的负离子剥离为正离子后再加速,所述加速与气体剥离系统连接分析磁铁和静电分析器,分析磁铁将瓦解的分子离子排除并将14C、13C、12C分离,使得14C进入静电分析器,所述静电分析器与探测器相连接。本发明实现了14C样品的快速高效测量,同时满足小型化的14C高灵敏测定。 | ||
搜索关键词: | 磁铁 交换器 静电分析器 剥离系统 电荷 负离子 正离子 高灵敏测量 微波离子源 分子离子 气体进样 正离子源 瓦解 高效测量 束流聚焦 探测器 灵敏 剥离 分析 转换 | ||
【主权项】:
1.一种基于气体进样正离子源的C‑14高灵敏测量装置,其特征在于:包括用于生成碳的正离子的微波离子源,所述微波离子源与电荷交换器连接,通过电荷交换器将碳的正离子转换为负离子,所述电荷交换器连接注入磁铁,所述注入磁铁通过束流聚焦系统将碳的负离子注入加速与气体剥离系统,加速与气体剥离系统将分子离子瓦解同时将碳的负离子剥离为正离子后再加速,所述加速与气体剥离系统连接分析磁铁和静电分析器,分析磁铁将瓦解的分子离子排除并将14C、13C、12C分离,使得14C进入静电分析器,所述静电分析器与探测器相连接,实现14C的测量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国原子能科学研究院,未经中国原子能科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810068308.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。