[发明专利]电学性能测试方法及装置在审
| 申请号： | 201810072455.2 | 申请日： | 2018-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN108254673A | 公开（公告）日： | 2018-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘光锟 | 申请（专利权）人： | 福建福顺半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤东凤 |
| 地址： | 350000 福建省福州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开一种电学性能测试方法及装置，其中，该电学性能测试方法包括将所述加热装置加热至预设温度后冷却，其中，集成电路放置于所述加热装置内；当所述加热装置的温度每下降预设间隔温度后，对所述集成电路的电学性能进行一次测试。本发明提出的电学性能测试方法及装置的测试过程由系统自动完成，无需人为介入操作；且操作简单方便，节省了劳动力成本，节约了时间；同时通过设置预设间隔温度可获得更接近实际情况的电学性能温度特性曲线，并且能更详细的反映集成电路在各温度下的电学性能温度特性。 | ||
| 搜索关键词： | 电学性能测试 电学性能 加热装置 集成电路 预设间隔 温度特性曲线 劳动力成本 测试过程 温度特性 自动完成 后冷却 预设 加热 测试 节约 | ||
【主权项】：
1.一种电学性能测试方法，其特征在于，包括：将加热装置加热至预设温度后冷却，其中，集成电路放置于所述加热装置内；当所述加热装置的温度每下降预设间隔温度后，对所述集成电路的电学性能进行一次测试。
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