[发明专利]光信号测量系统有效

专利信息
申请号: 201810075807.X 申请日: 2018-01-26
公开(公告)号: CN110082296B 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 马丽然;富佳音;李昊宇;雒建斌 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/65;G01N21/01
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 成丹
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种光信号测量系统,该系统包括:光输出装置、延迟线装置、第一光反射装置、第二光反射装置和信号收集装置;光输出装置,用于向延迟线装置输出飞秒红外光和皮秒可见光,以及向待测样品输出拉曼光;延迟线装置,用于调整皮秒可见光的光程,以使飞秒红外光和调整后的皮秒可见光之间的光程差等于0,并将飞秒红外光和调整后的皮秒可见光同时输出至待测样品表面;第一光反射装置,用于将经待测样品反射得到的拉曼光信号反射至信号收集装置;第二光反射装置,用于将经待测样品表面反射得到的和频光信号反射至信号收集装置。当用上述系统测量样品信息时,不仅可以得到样品内部信息,还可以得到样品表界面的信息,从而提高了测量效率。
搜索关键词: 信号 测量 系统
【主权项】:
1.一种光信号测量系统,其特征在于,包括:光输出装置、延迟线装置、第一光反射装置、第二光反射装置和信号收集装置;所述光输出装置,用于向所述延迟线装置输出飞秒红外光和皮秒可见光,以及向待测样品输出拉曼光;所述延迟线装置,用于调整所述皮秒可见光的光程,以使所述飞秒红外光和调整后的皮秒可见光之间的光程差等于0,并将所述飞秒红外光和调整后的皮秒可见光同时输出至待测样品表面;所述第一光反射装置,用于将经所述待测样品反射得到的拉曼光信号反射至所述信号收集装置;其中,所述拉曼光信号携带所述待测样品内部的结构信息;所述第二光反射装置,用于将经所述待测样品表面反射得到的和频光信号反射至所述信号收集装置;其中,所述和频光信号携带所述待测样品的表界面结构信息或者所述待测界面与其他对象接触时的接触界面的结构信息。
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