[发明专利]可变电阻存储器件有效

专利信息
申请号: 201810078207.9 申请日: 2013-05-22
公开(公告)号: CN108110027B 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 朴南均 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00;G11C13/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 毋二省;李少丹
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种可变电阻存储器件包括:多个列选择开关;多个可变电阻存储器单元,所述多个可变电阻存储器单元被配置成层叠并且通过多个列选择开关来选择;以及位线,所述位线与多个可变电阻存储器单元连接。多个可变电阻存储器单元中的每个包括双向阈值开关OTS元件以及与OTS元件并联连接的可变电阻器,所述OTS元件通过被布置成层叠的多个字线选择性地驱动。
搜索关键词: 可变 电阻 存储 器件
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括:层叠的多个栅结构,其间插入有绝缘层;栅绝缘层,栅绝缘层形成在所述多个栅结构的侧壁上;双向阈值开关材料层,双向阈值开关材料层形成在所述栅绝缘层的表面上;以及电阻层,所述电阻层形成在双向阈值开关材料层的表面上。
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