[发明专利]一种无损测量纳米光纤直径的装置及方法在审
| 申请号： | 201810081697.8 | 申请日： | 2018-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN108332676A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 张鹏飞;李刚;张天才 | 申请（专利权）人： | 山西大学 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08 |
| 代理公司： | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人： | 任林芳 |
| 地址： | 030006*** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明一种无损测量纳米光纤直径的装置及方法，属于纳米光纤直径无损测量技术领域；所要解决的技术问题是提供了一种成本低廉、无损测量纳米光纤直径的装置和方法；解决该技术问题采用的技术方案为：一种无损测量纳米光纤直径的装置，包括测试激光器、光纤探针和光电探测器，测试激光器输出的激光依次经过第一普通光纤、第一锥形光纤、纳米光纤、第二锥形光纤和第二普通光纤后进入光电探测器，第一普通光纤、第一锥形光纤、纳米光纤、第二锥形光纤和第二普通光纤为一体成型；光纤探针用于对纳米光纤进行接触或分离，使光电探测器测得光纤探针接触纳米光纤不同位置下的测试激光的光强；本发明可广泛应用于纳米光纤直径测量领域。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米光纤 无损测量 锥形光纤 光电探测器 光纤探针 光纤 激光器 测试 测试激光 一体成型 直径测量 光强 激光 输出 应用 | ||
【主权项】：
1.一种无损测量纳米光纤直径的装置，其特征在于：包括测试激光器（1）、光纤探针（9）和光电探测器（8），测试激光器（1）输出的激光（2）依次经过第一普通光纤（3）、第一锥形光纤（4）、纳米光纤（5）、第二锥形光纤（6）和第二普通光纤（7）后进入光电探测器（8），第一普通光纤（3）、第一锥形光纤（4）、纳米光纤（5）、第二锥形光纤（6）和第二普通光纤（7）为一体成型；光纤探针（9）用于对纳米光纤（5）进行接触或分离，使光电探测器（8）测得光纤探针（9）接触纳米光纤（5）不同位置下的测试激光的光强。
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