[发明专利]一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法有效
| 申请号： | 201810081754.2 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108332857B | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 张鹏飞;李刚;张天才 | 申请（专利权）人： | 山西大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人： | 任林芳 |
| 地址： | 030006*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法，属于纳米光纤偏振测量控制技术领域；所要解决的技术问题是提供了一种成本低廉、测量和控制精度高的测量纳米光纤中光偏振的装置及方法；解决该技术问题采用的技术方案为：测量纳米光纤中光偏振的装置包括测试激光器、半波片、光纤偏振控制器、光纤探针和光电探测器，测试激光器输出的激光依次经过半波片、普通光纤、光纤偏振控制器和第一锥形光纤进入纳米光纤，光纤探针通过普通光纤与光电探测器相连，光纤探针的尖端与纳米光纤的表面接触；本发明还提供了采用上述装置测量纳米光纤中光偏振的方法；本发明可广泛应用于纳米光纤中光偏振测量领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 纳米 光纤 偏振 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量纳米光纤中光偏振的装置，其特征在于：包括测试激光器（1）、半波片（2）、偏振控制器（5）、光纤探针（8）和光电探测器（9），测试激光器（1）输出的激光（3）依次经过半波片（2）、第一普通光纤（4）、光纤偏振控制器（5）和第一锥形光纤（6）后进入纳米光纤（7），所述光纤探针（8）通过第二普通光纤（13）与光电探测器（9）相连，光纤探针（8）的尖端（10）与纳米光纤（7）的表面接触，纳米光纤（7）表面传输的倏逝场激光耦合进入光纤探针（8），第一普通光纤（4）、第一锥形光纤（6）和纳米光纤（7）为一体成型。
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