[发明专利]弯曲晶体检测方法及装置有效
| 申请号： | 201810082028.2 | 申请日： | 2018-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN108254391B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 韦敏习;杨国洪;王静;侯立飞;车兴森;张文海;尚万里;杨轶濛 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 吴开磊 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种弯曲晶体检测方法及装置，所述装置包括射线发射源、晶体转动机构以及记录面，射线发射源用于按照预设角度发射入射光线，所述晶体转动机构用于放置弯曲晶体，放置于所述晶体转动机构的弯曲晶体接收所述射线发射源发射的入射光线，并将所述入射光线的折射光线折射向所述记录面。记录面接收弯曲晶体折射产生的折射光线在记录面的位置，并判断该位置是否与预设位置相重合，若是，则说明当前放置于晶体转动机构的弯曲晶体为合格的弯曲晶体。通过转动弯曲晶体，并检测弯曲晶体折射的光线在记录面投射的位置的方法，能够较好地实现对弯曲晶体是否合格的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 弯曲 晶体 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种弯曲晶体检测装置，其特征在于，所述装置包括：射线发射源、晶体转动机构以及记录面；所述射线发射源用于按照预设角度发射入射光线，所述晶体转动机构用于放置弯曲晶体，放置于所述晶体转动机构的弯曲晶体接收所述射线发射源发射的入射光线，并将所述入射光线的折射光线折射向所述记录面。
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