[发明专利]测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201810084305.3 | 申请日： | 2018-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN108287968B | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 苏道一;牛晨曦 | 申请（专利权）人： | 广东曼克维通信科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510000 广东省广州市广州高新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度，根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。上述技术方案，通过计算天线口径面和扫描架测量面的平行度来确定天线口径和扫描架的平行度，使得将天线口径和扫描架间的平行度的计算转换为天线口径面和扫描架测量面的平行度的计算，从而确定天线口径和扫描架的平行状态。 | ||
| 搜索关键词： | 测算 天线 口径 扫描 平行 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。
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