[发明专利]一种可调节抗干扰微波均匀线源生成系统有效
申请号: | 201810084809.5 | 申请日: | 2018-01-29 |
公开(公告)号: | CN108173004B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 杨州军;谢先立;周豪;潘晓明;周静 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | H01Q15/02 | 分类号: | H01Q15/02;H01Q19/06;H01Q19/08 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 廖盈春;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开一种可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,包括:微波源,微波源用于发射点微波束;扩束双曲面透镜E向和H向皆为双曲线,用于将点微波束进行扩束;其中,E向为侧视投影面,H向俯视投影面;重构超环面透镜E向为双曲线,用于使扩束后的点微波束竖直方向的能量进行重新分布,将能量的高斯分布变成均匀线分布,重构超环面透镜E向双曲线的曲率半径小于扩束双曲面透镜E向双曲线的曲率半径;准直超环面透镜E向为双曲线,H向弯曲,用于将E向发散的线分布微波波束进行准直收束,使H向微波波束宽度保持不变,得到微波均匀线源。本发明可以通过点微波源得到微波均匀线源。 | ||
搜索关键词: | 一种 调节 抗干扰 微波 均匀 生成 系统 | ||
所述微波源用于发射点微波束;
所述扩束双曲面透镜靠近微波源一侧的E向和H向皆为双曲线,远离微波源一侧为平面,用于将点微波束进行扩束;其中,E向为侧视投影面,H向俯视投影面;
所述重构超环面透镜靠近扩束双曲面透镜一侧的E向为双曲线,用于使扩束后的点微波束竖直方向的能量进行重新分布,将能量的高斯分布变成均匀线分布,所述重构超环面透镜E向双曲线的曲率半径小于扩束双曲面透镜E向双曲线的曲率半径;
所述准直超环面透镜靠近重构超环面透镜一侧的E向为双曲线,H向弯曲,用于将E向发散的线分布微波波束进行准直收束,使H向微波波束宽度保持不变,得到微波均匀线源。
2.根据权利要求1所述的可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,其特征在于,还包括:接收面板;所述接收面板位于所述准直超环面透镜远离重构超环面透镜的一侧,用于标注微波均匀线源的生成位置、大小及能量分布情况。
3.根据权利要求2所述的可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,其特征在于,还包括:精密电移动平台;所述精密电移动平台用于通过改变微波源与扩束双曲面透镜的距离,使得可以根据微波频率变化的需求,保持接收面板接收到的线微波束能量分布基本不变。
4.根据权利要求3所述的可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,其特征在于,在点微波频率75GHz到140GHz范围内,精密电移动平台行进距离在100mm左右,可保持接收面板接收到的线微波束能量分布基本不变。5.根据权利要求1所述的可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,其特征在于,扩束双曲面透镜E向和H向双曲线的二次曲面常数为‑2.518,曲率半径为151mm,扩束双曲面透镜的半高半宽皆为57mm,中心厚度为20mm,距离重构超环面透镜的距离为20mm。6.根据权利要求1所述的可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,其特征在于,所述重构超环面透镜E向双曲线的曲面常数为‑1.6,曲率半径为25mm,重构超环面透镜的半高半宽皆为80mm,中心厚度为70mm,距离准直超环面透镜的距离为300mm。7.根据权利要求1所述的可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,其特征在于,所述准直超环面透镜E向双曲线的二次曲面常数为‑1.5,E向曲率半径为220mm,H向弯曲,E向曲率半径200mm,准直超环面透镜半高为230mm,半宽为70mm,中心厚度为120mm。8.根据权利要求2所述的可调节抗干扰微波均匀线源生成系统,其特征在于,所述接收面板为半高300mm,半宽50mm的平板,距离准直超环面透镜的及距离为200mm。该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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