[发明专利]一种基于二阶陷波滤波器的精确调试方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810086329.2 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN108333935B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 冯伟;冀娟;曾凡铨;胡翔宇;王尧尧 申请(专利权)人: 上海航天控制技术研究所
主分类号: G05B13/04 分类号: G05B13/04
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 胡健男
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于二阶陷波滤波器的精确调试方法及系统,通过对调试对象进行数学仿真或扫频试验,得到其初始频率特性,据此获得调试对象的谐振频率、谐振峰值和需要校正的频率范围,根据这些信息,确定二阶陷波滤波器的陷波中心频率、陷波深度和陷波带宽,并以这三个信息量作为输入,计算二阶陷波滤波器的分子阻尼系数和分母阻尼系数,最终建立二阶陷波滤波器的精确的数学模型,即可对调试对象进行调试。在调试过程中,若调试对象的频率特性与指标要求仍有差距,可依据差距情况适当调整陷波深度和陷波带宽,逐步达到指标要求,调试过程中根据上次调试结果可以有导向性地进行下次调试,在实现精准调试的同时大大提高了调试效率。
搜索关键词: 一种 基于 陷波 滤波器 精确 调试 方法 系统
【主权项】:
1.一种基于二阶陷波滤波器的精确调试方法,其特征在于步骤如下:(1)根据二阶陷波滤波器的调试对象的谐振频率和待校正的频率范围,确定二阶陷波滤波器的陷波中心频率ω0、起始频率ω1、终止频率ω2;(2)根据二阶陷波滤波器的调试对象的谐振峰值,确定二阶陷波滤波器的陷波深度D;(3)根据起始频率ω1、终止频率ω2,确定二阶陷波滤波器的陷波带宽B;(4)根据步骤(1)的陷波中心频率点ω0、步骤(2)的陷波深度D和步骤(3)的陷波带宽B,计算二阶陷波滤波器的分子阻尼系数ξ1和分母阻尼系数ξ2;(5)根据步骤(1)的陷波中心频率点ω0,步骤(4)的二阶陷波滤波器的分子阻尼系数ξ1和分母阻尼系数ξ2,建立二阶陷波滤波器的数学模型;(6)根据步骤(5)获得的数学模型,对调试对象进行频率特性的调试,得到调试结果。
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