[发明专利]一种基于微波干涉的二维面形变监测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810087826.4 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN108050964B 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 刘忠;邓峰;彭志伟;蒋伟明;焦润之 申请(专利权)人: 长沙深之瞳信息科技有限公司
主分类号: G01B15/06 分类号: G01B15/06;G01S13/88
代理公司: 长沙楚为知识产权代理事务所(普通合伙) 43217 代理人: 陶祥琲
地址: 410003 湖南省长沙市开福*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种基于微波干涉的二维面形变监测方法及系统,其中形变监测方法包括:S1、选择稳定参考点和目标待测点;S2、求各个点的形变量;S3、误差补偿;S4、求水平位移和竖直位移;S5、形变监测。本发明还提供一种形变监测系统,包括:至少两个微波干涉形变测量雷达、n个稳定参考点、若干个目标待测点、雷达控制系统及远程监测平台;其中:n≥2;雷达控制系统包括误差补偿模块、位移计算模块及形变监测模块。本发明是一种适用于边坡、大坝的形变监测,且安装简便、使用成本低、自动化程度和精度高、监测效果好、不易受干扰的,能通过测量二维面在水平和竖直方向上的形变分量而实现对其稳定性监测的形变监测方法和系统。
搜索关键词: 一种 基于 微波 干涉 二维 形变 监测 方法 系统
【主权项】:
1.一种基于微波干涉的二维面形变监测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、选择稳定参考点和目标待测点在微波干涉形变测量雷达探测范围内,选择位于待监测的二维面上的若干目标待测点及n个稳定参考点;所述稳定参考点为在整个测量时间内不发生形变位移的点位,其中:n≧2;且满足|rik-rjk|≥δr,其中rik和rjk分别表示任意目标待测点i和j到微波干涉形变雷达k的距离,δr表示雷达的距离分辨率;S2、求各个点的形变量使用至少两台的微波干涉形变测量雷达同时对选择的稳定参考点和目标待测点进行形变测量并采集形变量数据,同时将形变量数据传输给雷达控制系统;S3、误差补偿雷达控制系统基于稳定参考点的形变量数据建立误差补偿模型,通过误差补充模型对目标待测点的形变量数据进行误差补偿,得到目标待测点的形变量Δl;S4、求水平位移和竖直位移雷达控制系统对目标待测点的形变量Δl根据其设定的坐标系进行数据投影,根据各稳定参考点、目标待测点、及微波干涉形变测量雷达的位置信息及其投影关系,求出目标待测点的水平位移和竖直位移;S5、形变监测在雷达控制系统内设置水平位移阀值和竖直位移阀值,当步骤S4中求出的水平位移超出水平位移阀值或者竖直位移超出竖直位移阀值,即判定该二维面发生危害,雷达控制系统发出警报信号给远程监测平台实现对该二维面的形变监测。
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