[发明专利]规则样品X射线CT投影图位置平移偏差检测及校正方法

摘要

本发明涉及CT成像技术领域，特别涉及规则样品X光断层扫描投影图像中样品发生随机平移后对偏移量的检测及其校正方法。在原始CT投影图或者减背景投影图的样品区域中选取判断样品偏移量的参考点；计算每张投影图对应位置处样品发生的偏移量，并进行平移修正。本方法结合了三个不定参数进行拟合，并完成对样品发生随机平移的图像的校正，以此减少样品随机偏移造成的重构数据中组分的形状畸变，为后续的CT重构提供良好的数据基础。

主权项

1.规则样品X射线CT投影图位置平移偏差检测及校正方法，其特征在于：按照如下的步骤进行步骤一、以采集的CT投影图上左上角的第一个像素点为坐标原点建立直角平面坐标系，向右表示投影图横坐标i的正方向，i＝0,1,2,…imax，imax是投影图的最大横坐标值；向下表示图像纵坐标j的正方向，j＝0,1,2,…jmax，jmax是投影图的最大纵坐标值，(i_max+1)×(j_max+1)为投影图的像素尺寸，在CT投影图的规则样品区域中选取一个有标志性的点作为判断规则样品规则偏移量的参考点，确定其实验横坐标值步骤二、在步骤一所建立的直角平面坐标系中，建立CT投影图中参考点的理论横坐标值的函数这一函数中包括样品台旋转中心在投影图中的投影横坐标i_s、参考点离样品台旋转中心的距离r、规则样品转动初始相位θ三个参数；其中各自的取值范围为0＜i_s＜i_max、0≤r＜i_max/2、0≤θ≤2π；k表示第k张CT投影图，φ为样品台转动过程中的角度步长；步骤三、建立确定参考点横坐标理论值函数所包含变量最优解的目标函数，k_max表示CT投影图的总张数；步骤四、通过使得目标函数取到极小值，以此确定参考点横坐标的理论值函数中三个参数：is、r、θ的最优解；步骤五、将i_s、r、θ的最优解代入步骤二所建立的参考点理论横坐标值的函数中，计算每张投影图中参考点的理论横坐标值再根据参考点的实验横坐标值计算出每张CT投影图偏移量表示取数值的整数部分；步骤六、根据偏移量xk，对第k张CT投影图进行平移校正；步骤七、用同样的方法对所有CT投影图像位置平移偏差进行检测及校正。