[发明专利]一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法

摘要

本发明公开了一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法，本方法以作为FTIR光谱仪标准配置的具有宽光谱范围平坦响应的热释电探测器为基础，得到该探测器及放大电路对选定光源和分束器组合在不同扫描速度下的响应，提取相关数据并拟合出该探测器及放大电路的频率响应特性。利用此频率响应特性对特定光源和分束器组合的原始输出特性进行校正，即得到其实际的输出特性。以此校正后的实际输出特性作为背景光谱，即可对测量所得的光电探测器原始响应光谱进行参比操作，得到校正后的光电探测器实际响应光谱。鉴于热释电探测器是FTIR光谱仪的标配且具有宽谱响应，因而此方法是普适且宽谱的，适用于各种FTIR光谱仪中不同的光源和分束器组合。

主权项

1.一种FTIR测量光电探测器响应的宽谱校正方法，所述的宽谱校正方法以作为傅里叶变换红外光谱仪标准配置的具有宽光谱范围平坦响应的热释电探测器为基础，通过实际测量及拟合计算来获得校正探测器响应光谱所需的背景光谱，然后利用该背景光谱获得待测光电探测器的实际响应光谱；其特征在于所述的校正方法包括以下步骤：1)通过测量热释电探测器及放大电路对选定光源和分束器组合在不同扫描速度下对光谱波长频率的响应，然后提取相关数据拟合出此探测器及放大电路的解析频率响应特性；2)根据步骤1)得到的热释电探测器及放大电路解析频率响应特性对特定光源和分束器组合的原始输出特性进行校正，从而得到在此特定光源和分束器组合下傅里叶变换红外光谱仪的实际输出特性；3)根据步骤2)得到的以此校正后的光谱仪实际输出特性作为背景光谱，对测量所得的光电探测器的原始响应光谱进行参比操作，即可得到校正后的光电探测器实际响应光谱。