[发明专利]一种GaAs基LFET太赫兹红外光探测器和制备方法有效
申请号: | 201810090440.9 | 申请日: | 2018-01-30 |
公开(公告)号: | CN108428764B | 公开(公告)日: | 2019-07-23 |
发明(设计)人: | 邓惠勇;潘昌翊;殷子薇;谢经辉;张祎;李世民;王超;戴宁 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L31/112 | 分类号: | H01L31/112;H01L31/0304;H01L31/18 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 李秀兰 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种GaAs基LFET太赫兹红外光探测器和制备方法,该探测器包括吸收区、阻挡区、源漏区、介电区和栅区六个部分,制备方法包括五个步骤,即通过光刻、离子注入、等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)、热蒸发技术在高阻GaAs基底依次形成吸收区,源漏区(与阻挡区),介电区,源漏电极,以及栅区。本发明的优点是:栅区电压导致吸收区载流子耗尽有效降低了光生电子‑空穴对的复合速率,提高了内量子效率,从而提高了传统杂质光电导型光子探测器的探测率,并且与当前的半导体工艺技术相兼容。 | ||
搜索关键词: | 吸收区 栅区 制备 红外光探测器 介电区 源漏区 阻挡区 等离子体增强化学气相沉积法 半导体工艺技术 空穴 光子探测器 内量子效率 载流子耗尽 光电导型 光生电子 源漏电极 热蒸发 探测率 探测器 高阻 光刻 离子 兼容 复合 | ||
【主权项】:
1.一种GaAs基LFET太赫兹红外光探测器,包括GaAs基底(1)、吸收区(2)、阻挡区(11)、源漏区(3)、介电层(4)和栅区(5),其特征在于:所述的吸收区(2)和阻挡区(11)代替了晶体管的沟道;所述的介电层(4)隔断了源漏电极(6);所述探测器的源漏区(3)和栅区(5)分别施加固定大小的偏压,被探测光背入射至吸收区,通过监控源漏区(3)之间电流的变化来探测入射光。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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