[发明专利]一种电子学器件温度闭环控制系统及其安装方法在审

专利信息
申请号: 201810092795.1 申请日: 2018-01-31
公开(公告)号: CN108227784A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 杨州军;周豪;谢先立;潘晓明;蔡勤学 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G05D23/20 分类号: G05D23/20
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 廖盈春;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种电子学器件温度闭环控制系统及其安装方法,包括:温度检测电路用于检测电子学器件的实际温度,微控制器输入端与温度检测电路相连,输出端与IGBT驱动电路相连,用于通过温度检测电路确定电子学器件的实际温度,并提供相应占空比的驱动信号驱动IGBT驱动电路;IGBT驱动电路与Buck电路相连,IGBT驱动电路用于对Buck电路的输出电压进行调制,Buck电路经调制后的输出电压的幅值与IGBT驱动电路驱动信号的占空比成正比;Buck电路用于通过经调制后的输出电压控制半导体制冷器制冷,调节电子学器件的温度至设定温度值,半导体制冷器的冷面与电子学器件紧密接触。本发明实现温度的闭环控制,电路结构较为简单、硬件成本低以及系统工作灵活。
搜索关键词: 电子学器件 温度检测电路 调制 温度闭环控制系统 半导体制冷器 驱动信号 输出电压 占空比 输出电压控制 闭环控制 电路结构 微控制器 硬件成本 成正比 输出端 输入端 冷面 制冷 驱动 检测 灵活
【主权项】:
1.一种电子学器件温度闭环控制系统,其特征在于,包括:微控制器、温度检测电路、IGBT驱动电路、Buck电路以及半导体制冷器;所述温度检测电路用于检测电子学器件的实际温度;所述微控制器输入端与温度检测电路相连,输出端与IGBT驱动电路相连,用于通过温度检测电路确定电子学器件的实际温度,并提供相应占空比的驱动信号驱动IGBT驱动电路;所述IGBT驱动电路与Buck电路相连,所述IGBT驱动电路用于对Buck电路的输出电压进行调制,所述Buck电路经调制后的输出电压的幅值与所述IGBT驱动电路驱动信号的占空比成正比;所述Buck电路与半导体制冷器相连,用于通过经调制后的输出电压控制半导体制冷器制冷,调节电子学器件的温度至设定温度,所述半导体制冷器的冷面与电子学器件紧密接触。
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