[发明专利]一种薄膜电弱点测试仪有效
| 申请号： | 201810094919.X | 申请日： | 2018-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN108267675B | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 钱锦绣 | 申请（专利权）人： | 钱立文 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 244000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种薄膜电弱点测试仪，包括底板(1)、固设在小膜卷测试腔背面位于底板(1)上的一对大膜卷辊支架(7)、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊(4)以及小膜卷测试腔后壁(2)开设的供大膜卷薄膜进入的窗口(3)。本发明既可以测试直径较小的试样膜卷，又可以测试直径较大成品膜卷，仪器用途更广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 弱点 测试仪 | ||
【主权项】：
1.一种新型薄膜电弱点测试仪，包括底板(1)、固设在小膜卷测试腔背面底板上(1)的一对大膜卷辊支架(7)、设置在小膜卷测试腔内的过渡辊(4)以及小膜卷测试腔后壁(2)开设的供大膜卷薄膜进入的窗口(3)。
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