[发明专利]测量装置、加工系统及加工方法有效

专利信息
申请号: 201810096330.3 申请日: 2018-01-31
公开(公告)号: CN108115692B 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 肖文磊;魏德民;赵罡;刘桂宇 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: B25J9/16 分类号: B25J9/16
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨泽;刘芳
地址: 100191 北京市海淀区学*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种测量装置、加工系统及加工方法。所述测量装置包括:测量装置框架、工件夹持平台与测量机构,工件夹持平台与所述测量机构均位于所述测量装置框架形成的工作空间内;所述工件夹持平台设置在所述测量装置框架的第一内侧壁上,所述工件夹持平台用于夹持待加工工件;所述测量机构包括控制器、六自由度并联机构以及测量手柄,所述测量手柄为所述六自由度并联机构的末端执行器,所述六自由度并联机构设置在所述测量装置框架的第二内侧壁上,所述第一内侧壁与所述第二内侧壁相对,所述控制器与所述六自由度并联机构通信连接。本发明提供的测量装置,可以降低加工过程对专业编程人员的依赖和程序设计成本,从而提高了工业机器人的操作效率。
搜索关键词: 测量 装置 加工 系统 方法
【主权项】:
一种测量装置,其特征在于,包括:测量装置框架、工件夹持平台与测量机构,所述工件夹持平台与所述测量机构均位于所述测量装置框架形成的工作空间内;所述工件夹持平台设置在所述测量装置框架的第一内侧壁上,所述工件夹持平台用于夹持待加工工件;所述测量机构包括控制器、六自由度并联机构以及测量手柄,所述测量手柄为所述六自由度并联机构的末端执行器,所述六自由度并联机构设置在所述测量装置框架的第二内侧壁上,所述第一内侧壁与所述第二内侧壁相对,所述控制器与所述六自由度并联机构通信连接;当所述测量手柄上的测量触点与所述待加工工件上的第一待加工点接触时,所述控制器用于根据所述六自由度并联机构的当前姿态位置参数解算出所述第一待加工点在预设的第一坐标系下的第一坐标值及第一法线方向,并根据所述第一坐标及所述第一法线方向生成第一加工轨迹数据,并将所述第一加工轨迹数据发送至加工设备,以使所述加工设备根据所述第一加工轨迹数据对所述待加工工件进行加工。
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