[发明专利]平板探测器的漂移校正方法、装置、系统和存储介质在审
| 申请号： | 201810101585.4 | 申请日： | 2018-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN110109174A | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 费孝爱 | 申请（专利权）人： | 上海西门子医疗器械有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201318 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施方式公开了一种平板探测器的漂移校正方法、装置、系统和存储介质。方法包括：确定平板探测器的当前帧速率值和当前工作温度值；获取所述平板探测器在所述当前帧速率值和所述当前工作温度值时所采集的X射线图像；从漂移模板库中检索出对应于所述当前帧速率值和所述当前工作温度值的漂移模板；基于所述漂移模板对所述X射线图像执行漂移校正。本发明实施方式可以克服实时生成漂移模板所导致的系统资源占用问题。而且，即使需要多次执行X射线图像成像，也无需频繁生成漂移模板，显著降低了工作量。 | ||
| 搜索关键词： | 漂移 平板探测器 校正 存储介质 系统资源占用 实时生成 模板库 成像 工作量 检索 采集 | ||
【主权项】：
1.平板探测器的漂移校正方法，其特征在于，包括：确定平板探测器的当前帧速率值和当前工作温度值(102)；获取所述平板探测器在所述当前帧速率值和所述当前工作温度值时所采集的X射线图像(104)；从漂移模板库中检索出对应于所述当前帧速率值和所述当前工作温度值的漂移模板(106)；基于所述漂移模板对所述X射线图像执行漂移校正(108)。
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