[发明专利]低本底α、β测量装置

摘要

本发明提供了一种低本底α、β测量装置，包括：主探测器、反符合探测器和控制电路，主探测器和反符合探测器分别与控制电路相连接；主探测器用于采集主探测信号，并将主探测信号输入至控制电路，主探测信号为样品产生的α、β射线，和/或，环境本底辐射生成的探测信号；反符合探测器用于采集反符合信号，并将反符合信号输入至控制电路，反符合信号为环境本底辐射生成的探测信号；控制电路用于主探测信号和反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰，并在确定出未受到干扰时，统计α、β活度测量的测量结果。本发明缓解了现有的测量装置在进行α、β活度测量时容易受到环境本底辐射干扰的技术问题。

主权项

1.一种低本底α、β测量装置，其特征在于，包括：主探测器、反符合探测器和控制电路，其中，所述主探测器和所述反符合探测器分别与所述控制电路相连接；所述主探测器用于采集主探测信号，并将所述主探测信号输入至所述控制电路，其中，所述主探测信号为基于样品产生的α、β射线，和/或，环境本底辐射生成的探测信号；所述反符合探测器用于采集反符合信号，并将所述反符合信号输入至所述控制电路，其中，所述反符合信号为基于环境本底辐射生成的探测信号；所述控制电路用于所述主探测信号和所述反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰，并在确定出未受到干扰时，统计α、β活度测量的测量结果。