[发明专利]一种旋转式双激光轮廓测量方法、存储装置及测量装置有效
申请号: | 201810102152.0 | 申请日: | 2018-02-01 |
公开(公告)号: | CN108088389B | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 王险峰;李陶然;李大望;李龙元;韩宁旭;邢锋 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/30 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 518060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种旋转式双激光轮廓测量方法、存储装置及测量装置,包括如下步骤:检测主机分别开启数据采集器和位于试件两侧的一对激光测距仪,并控制旋转底座以预定转速带动试件转动;一对激光测距仪对试件进行两侧点扫信息采集,记录试件在当前平面各对轮廓检测点的两侧测量数据;旋转底座旋转一周后,激光测距仪沿支架上升预定高度,并重新对试件进行新的点扫信息采集,记录试件在新高度平面的各对轮廓检测点的两侧测量数据;依次重复上述步骤,直至完成对试件各高度平面的点扫信息采集,记录为工况一数据并进行计算得到试件的形状。从而本发明不仅避免测量中对试件尺寸的限制,还可更加全面精确的测量出试件的轮廓、表面粗糙度等数据。 | ||
搜索关键词: | 一种 旋转 激光 轮廓 测量方法 存储 装置 测量 | ||
【主权项】:
1.一种旋转式双激光轮廓测量方法,其特征在于,包括如下步骤:检测主机分别开启数据采集器和位于试件两侧的一对激光测距仪,并控制旋转底座以预定转速带动试件转动;控制一对激光测距仪对试件进行两侧点扫信息采集,记录试件在当前平面各对轮廓检测点的两侧测量数据;旋转底座旋转一周后,激光测距仪沿支架上升预定高度,并重新对试件进行新高度平面的点扫信息采集,记录试件在新高度平面的各对轮廓检测点的两侧测量数据;依次重复上述步骤,直至完成对试件各高度平面的点扫信息采集,记录为工况一数据;通过对工况一数据进行计算得到试件的形状。
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