[发明专利]基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法有效
| 申请号： | 201810111067.0 | 申请日： | 2018-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN108375768B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 李青侠;窦昊锋;桂良启;李育芳;吴袁超;雷振羽 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法，包括下述步骤：当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿x方向时，得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组；当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿y方向时，得到天线阵列输出的第二相关函数构成的第二线性方程组；将第一线性方程组和第二线性方程组进行组合，得到包含场景亮温图像信息的目标线性方程组；通过求解包含场景亮温图像信息的目标线性方程组，得到余弦可见度函数；利用余弦可见度函数进行反余弦变换，重建场景亮温图像。本发明解决线性方程组秩亏问题，提高余弦可见度函数的准确性，进而提高成像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 极化 信息 综合 孔径 辐射计 成像 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于极化信息的镜像综合孔径辐射计成像方法，其特征在于，包括下述步骤：S1：当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿x方向时，得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组；S2：当天线阵列中每个接收天线的主极化方向沿y方向时，得到天线阵列输出的第二相关函数构成的第二线性方程组；S3：将第一线性方程组和第二线性方程组进行组合，得到包含场景亮温图像信息的目标线性方程组；S4：通过求解包含场景亮温图像信息的目标线性方程组，得到余弦可见度函数；S5：利用余弦可见度函数进行反余弦变换，重建场景亮温图像。
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