[发明专利]基于红外热成像的涂层厚度检测方法

摘要

本发明公开了一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，从中提取出表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，结合对应的涂层厚度拟合得到时间‑涂层厚度曲线，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，从时间‑涂层厚度曲线搜索得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。

主权项

1.一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，记每个标准试件的涂层厚度为dn，n＝1,2,…,N，N表示标准试件数量；S2：对于每个标准试件，分别采用加热设备对标准试件涂层面进行持续加热，同时采用红外热像仪对标准试件的涂层面采集从开始加热时刻至温度稳定上升阶段的红外热图像，获得红外热图像序列；S3：根据每个标准试件的红外热图像序列，提取出试件代表点的表面温度变化曲线；S4：在每个标准试件的表面温度变化曲线中，获取从开始加热时刻至曲线斜率达到预设阈值K的时间Δtn；S5：根据每个标准试件对应的时间Δtn以及涂层厚度dn，拟合得到时间‑涂层厚度曲线；S6：当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同加热设备对待测试件涂层面进行持续加热，同时采用红外热像仪对标准试件的涂层面采集从开始加热时刻至温度稳定上升阶段的红外热图像，获得红外热图像序列，提取出其表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到阈值K的时间Δt′，在步骤S5得到的时间‑涂层厚度曲线搜索出Δt′对应的涂层厚度，即为待测试件的涂层厚度。