[发明专利]存储装置在审
申请号: | 201810113346.0 | 申请日: | 2018-02-05 |
公开(公告)号: | CN109473443A | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
发明(设计)人: | 山中贵哉 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L27/11582 | 分类号: | H01L27/11582;H01L27/1157 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 实施方式提供一种能够容易地形成存储器孔,能够使制造良率提高的存储装置。存储装置具备:导电层;第1电极层,设置在导电层上;第2电极层,设置在导电层与第1电极层间,包含与第1电极层不同的材料;半导体柱,在从导电层朝向第1电极层的第1方向上贯穿第1及第2电极层地延伸,具有连接在导电层的端部;第1绝缘膜,包含位于半导体柱与第1电极层间、及半导体柱与第2电极层间、及半导体柱与导电层间的部分,沿半导体柱在第1方向上延伸;第2绝缘膜,设置在导电层与第1绝缘膜间;及第3绝缘膜,设置在第1绝缘膜与第2电极层间。所述第2、第3绝缘膜、第2电极层及导电层包含第1元素,第2及第3绝缘膜包含第1元素的氧化物或氮化物。 | ||
搜索关键词: | 电极层 导电层 绝缘膜 半导体柱 存储装置 存储器 氮化物 延伸 氧化物 良率 贯穿 制造 | ||
【主权项】:
1.一种存储装置,其特征在于具备:导电层;第1电极层,设置在所述导电层上;第2电极层,设置在所述导电层与所述第1电极层之间,且包含与所述第1电极层不同的材料;半导体柱,在从所述导电层朝向所述第1电极层的第1方向上贯穿所述第1电极层及所述第2电极层地延伸,且具有连接在所述导电层的端部;第1绝缘膜,包含位于所述半导体柱与所述第1电极层之间、及所述半导体柱与所述第2电极层之间、及所述半导体柱与所述导电层之间的部分,且沿所述半导体柱在所述第1方向上延伸;第2绝缘膜,设置在所述导电层与所述第1绝缘膜之间;及第3绝缘膜,设置在所述第1绝缘膜与所述第2电极层之间;所述第2绝缘膜、所述第3绝缘膜、所述第2电极层及所述导电层包含第1元素,所述第2绝缘膜及所述第3绝缘膜包含所述第1元素的氧化物或氮化物。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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