[发明专利]一种带外支架立式机床几何精度检测方法

摘要

本发明公开了一种带外支架立式机床几何精度检测方法，应用在机床精度检验领域，包括以下步骤：步骤(1)，将复合检具安装于回转工作台上；所述复合检具包括呈长方体状的角尺，以及设置在角尺顶部位于其中心轴线方向的顶尖；步骤(2)，校正复合检具中心轴线相对于回转工作台中心轴线C轴的同轴度；步骤(3)～(6)，分别测量大、小立柱X、Y、Z向的平行度，XY方向的垂直度。目前的检测方法采用的检具为圆杆式检具，其只能检测出带刀架运行的大立柱和带外支架运行的小立柱，相对于主轴的平行度，对于水平方向(XY向)上的平行度，以及XY向的垂直度，并没有进行有效的检测。本发明则可有效的解决该问题。

主权项

1.一种带外支架立式机床几何精度检测方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤(1)，将复合检具安装于回转工作台上；所述复合检具包括呈长方体状的角尺，以及设置在角尺顶部位于其中心轴线方向的顶尖；步骤(2)，校正复合检具中心轴线相对于回转工作台中心轴线C轴的同轴度，具体为将磁力表座固定，表针指向顶尖外锥面，启动回转工作台匀速转动，根据表盘上偏差值调整同轴度至偏差值为零；步骤(3)，分别测量大立柱X、Y、Z向的平行度，具体为将一个磁力表座固定于大立柱上的滑板表面，表针指向角尺周向表面，启动大立柱，根据测量需要做X、Y、Z向匀速直线运动，根据表盘上的偏差值调整大立柱在X、Y、Z向平行度至偏差值为零；步骤(4)，测量大立柱XY方向的垂直度，具体为将两个磁力表座固定于大立柱上的滑板表面，表针分别指向角尺周向互相垂直的两个表面，启动大立柱做Z向匀速直线运动，根据两个表盘上的偏差值调整大立柱在XY方向垂直度至偏差值均为零；步骤(5)，分别测量小立柱X、Y、Z向的平行度，具体为将一个磁力表座固定于小立柱上的外支架表面，表针指向角尺周向表面，启动小立柱，根据测量需要做X、Y、Z向匀速直线运动，根据表盘上的偏差值小立柱在X、Y、Z向平行度至偏差值为零；步骤(6)，测量小立柱XY方向的垂直度，具体为将两个磁力表座固定于小立柱上的外支架表面，表针分别指向角尺周向互相垂直的两个表面，启动小立柱做Z向匀速直线运动，根据两个表盘上的偏差值调整小立柱在XY方向垂直度至偏差值均为零。