[发明专利]用于检测LED封装缺陷的光学检测设备在审
| 申请号： | 201810116592.1 | 申请日： | 2018-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN108284078A | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 连程杰;朱干军 | 申请（专利权）人： | 义乌臻格科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 | 代理人： | 陈迪 |
| 地址： | 322000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备。它包括有机架，其上固定有X向轨道，X向轨道上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道，Y向轨道上滑动配合有用于搭载LED支架的载台，且载台上的LED支架的正反面为外露设置，机架上且位于载台的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置和镜头朝上的第二拍摄装置，第一拍摄装置和第二拍摄装置为同轴线设置，所述载台的高度为介于第一拍摄装置和第二拍摄装置之间，机架上且位于载台的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆。本发明是基于整个LED支板操作，拍摄装置可同时拍摄样品的正反面，检测效率高。样品处于静止状态，使得检测准确度大幅提升。 | ||
| 搜索关键词： | 拍摄装置 载台 光学检测设备 可移动区域 检测 滑动配合 轨道 正反面 同轴线设置 垂直设置 静止状态 上下运动 竖直设置 准确度 顶出杆 内固定 有机架 外露 朝上 支板 镜头 拍摄 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备，其特征在于：它包括机架（1），其上固定有水平设置的X向轨道（2），X向轨道（2）上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道（3），Y向轨道（3）上滑动配合有用于搭载LED支架的载台（4），且载台（4）上的LED支架的正反面为外露设置，机架（1）上且位于载台（4）的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置（51）和镜头朝上的第二拍摄装置（52），第一拍摄装置（51）和第二拍摄装置（52）为同轴线设置，所述载台（4）的高度为介于第一拍摄装置（51）和第二拍摄装置（52）之间，机架（1）上且位于载台（4）的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆（6），顶出杆（6）为高于载台（4）所在高度，所述的机架（1）上还设有辅助照明装置（7）。
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