[发明专利]集成电路输入端测试装置及集成电路有效
| 申请号： | 201810122634.2 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN110118921B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 高国重;齐子初 | 申请（专利权）人： | 龙芯中科技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 董建姣;刘芳 |
| 地址： | 100095 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种集成电路输入端测试装置及集成电路，包括：输出选择单元、功能单元、测试逻辑组合单元以及多个待测试输入态引脚；测试逻辑组合单元和功能单元均包括多个输入端；多个待测试输入态引脚包括至少一个待测试双向引脚和/或至少一个待测试输入引脚；每个待测试输入态引脚分别与逻辑组合单元的一个输入端以及功能单元的一个输入端连接；多个待测试输入态引脚中的待测试双向引脚还与对应的状态选择单元连接；输出选择单元的第一输入端与测试逻辑组合单元的输出端连接，输出选择单元的第二输入端与功能单元的输出端连接；输出选择单元的输出端与输出引脚连接。用于提高集成电路输入端的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 输入 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路输入端测试装置，其特征在于，包括：输出选择单元、功能单元、测试逻辑组合单元以及多个待测试输入态引脚；所述测试逻辑组合单元以及所述功能单元均包括多个输入端；所述多个待测试输入态引脚包括至少一个待测试双向引脚和/或至少一个待测试输入引脚；其中，每个待测试输入态引脚分别与所述逻辑组合单元的一个输入端以及所述功能单元的一个输入端连接；所述多个待测试输入态引脚中的所述待测试双向引脚还与对应的状态选择单元连接，所述状态选择单元用于控制所述待测试双向引脚的状态；所述输出选择单元的第一输入端与所述测试逻辑组合单元的输出端连接，所述输出选择单元的第二输入端与所述功能单元的输出端连接；所述输出选择单元的输出端与输出引脚连接。
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