[发明专利]柔性光学测量支架在审

专利信息
申请号: 201810123603.9 申请日: 2018-02-07
公开(公告)号: CN108132019A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 黄萃蔚;陆黎刚;岑晨 申请(专利权)人: 上汽大众汽车有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆嘉
地址: 201805 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭示了一种柔性光学测量支架,包括:底座及框架、三维度定位机构和辅助测量部件。底座及框架中的底座安装在测量平台上,框架安装在底座上。三维度定位机构安装在框架上,三维度定位机构将待测量部件相对于框架定位,调节三维度定位机构,待测量部件能相对于光学测量的拍摄路径转动。辅助测量部件安装在框架上,辅助测量部件提供光学测量的参考基准。底座和框架避开光学测量的拍摄路径。本发明的柔性光学测量支架可以通过调整三维度定位机构来适应各种车型的多种零部件的夹装定位,并能够对待测量部件的姿态进行调整和优化,以适应光学拍摄的特点,大幅度提升了光学测量的可达性。该柔性光学测量支架具有广泛的应用领域。
搜索关键词: 定位机构 三维度 测量支架 光学测量 柔性光学 底座 辅助测量部件 测量部件 参考基准 底座安装 光学拍摄 框架安装 可达性 拍摄 夹装 转动 零部件 车型 避开 测量 优化
【主权项】:
一种柔性光学测量支架,其特征在于,包括:底座及框架,底座安装在测量平台上,框架安装在底座上;三维度定位机构,安装在框架上,三维度定位机构将待测量部件相对于框架定位,调节三维度定位机构,待测量部件能相对于光学测量的拍摄路径转动;辅助测量部件,安装在框架上,辅助测量部件提供光学测量的参考基准;其中,底座和框架避开光学测量的拍摄路径。
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