[发明专利]一种测试加载晶圆盒的方法在审

专利信息
申请号: 201810127472.1 申请日: 2018-02-08
公开(公告)号: CN108511357A 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 王玉龙;凌俭波;王锦;汤雪飞;吴勇佳 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根;徐颖
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种测试加载晶圆盒的方法,通过将探针台的搁置晶圆盒区域增加到两个,在测试一个晶圆盒里的晶圆时,可以对另一个晶圆盒进行更换动作,不会影响到正在测试的那个晶圆盒;另外测完的晶圆可以在搁置区放置一段时间,一旦需要复测,直接加载这个晶圆盒即可,节省再更换时间。从而达到测试不间断的目的,保证了测试连贯性,提高了生产效率。
搜索关键词: 晶圆盒 测试 加载 晶圆 区域增加 生产效率 连贯性 搁置区 探针台 复测 搁置 保证
【主权项】:
1.一种测试加载晶圆盒的方法,探针台上分测试区域和搁置晶圆盒的区域,晶圆盒从搁置晶圆盒区域内下移到固定位置,并通过里面的机械托盘将晶圆放置到晶圆测试区域内,进行测试,其特征在于,有两个搁置区域A和B,初始两个晶圆盒A和B分别放置在晶圆盒搁置区域A和晶圆盒搁置区域B同时待测;探针台如选择晶圆盒A先进行测试,则晶圆盒A下沉后进入测试区域进行测试,晶圆盒B停留在晶圆盒搁置区域B内,当晶圆盒A里的晶圆全部完成测试后,晶圆盒A放回晶圆盒搁置区域A,晶圆盒搁置区域B内的晶圆盒B进入测试区域进行测试,当工程师确认晶圆盒A测试数据无异常后,移走晶圆盒A,更换晶圆盒C到搁置区域A内待测;当晶圆盒B里的晶圆全部完成测试后,将晶圆盒B放回搁置区域B,等待工程师确认晶圆盒B测试数据,同时直接加载晶圆盒C进入测试区继续测试;一旦工程师发现晶圆盒B测试数据异常,先将当前测试的晶圆盒退出到原来位置,加载之前保留在探针台里的已测晶圆盒进行复测,复测完后继续返回原搁置位置,等待工程确认复测数据,如复测数据与上次测试相同,判断数据无误,如数据有差别,那再次进行第2次复测,直到确定测试数据无误,数据无误后所搁置的区域更换晶圆盒。
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