[发明专利]用于光学测试的可编程光子电子集成电路

摘要

本公开提供了一种用于光学测试的可编程集成电路管芯。该集成电路管芯包括光子元件和电子元件两者。特别地，该集成电路管芯可以包括存储器块、可编程逻辑块（例如，现场可编程门阵列）、电学收发器块、光学收发器块和光学测试接口单元。可编程逻辑块可以被编程为具有嵌入式微控制器的逻辑功能和各种编码器/解码器的逻辑功能。逻辑功能可以是软的、硬的或混合的。存储器可以用来存储测试模式、查找表、所测量的波形、错误时间轮廓和统计信息。电学收发器和光学收发器可以实现PAMn、NRZ或QAMn调制并且可以具有可编程参数，包括：电压电平；光学功率；转换速率；量值/相位；时钟生成和恢复；均衡化；采样水平；和采样时间。也公开了其他实施例和特征。

主权项

1.一种用于光学测试的可编程光子电子集成电路，所述可编程光子电子集成电路包括：光学测试接口单元，其向受测试光学设备发送多个传出数据信道，并且从所述受测试光学设备接收多个传入数据信道；光学发送器电路，其调制所述多个传出数据信道，并且将所述多个传出数据信道发送到所述光学测试接口单元；光学接收器电路，其接收和解调来自所述光学测试接口单元的所述多个传出数据信道；第一系列电路，其将所述多个传出数据信道进行可编程编码和串行化；第二系列电路，其将所述多个输入数据信道进行解串行化和可编程解码；以及一个或多个可编程误码率测试器电路，其将来自所述第一系列电路的传出数据与来自所述第二系列电路的传入数据进行比较来确定多个误码率。